熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡(jiǎn)要描述:ASR-E 系列,閉環(huán)電動(dòng)XY軸掃描臺(tái),多種行程可選。精度可達(dá)12 µm; 2 µm 重復(fù)性; 速度 85 mm/s 。
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