熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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CRD高反射率測量儀
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針對高反射率(R99.7%)的光學樣品,德國 IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率測量儀, 它通過對指數型腔內衰蕩信號的檢測,去掉了傳統(tǒng)檢測方法中激光能量起伏所引起的誤差,大大提高了測量精度。
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