熱門關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡(jiǎn)要描述:太赫茲探測(cè)器 THZ-B系列,數(shù)字(T-Rad)或模擬模塊(T-Rad-Analog)可選。
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