殘余應力測量

簡要描述：該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進探測和解調(diào)電子來測量光學如何改變偏振狀態(tài)。這就導致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。利用這些數(shù)據(jù)可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力測量進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產(chǎn)中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術(shù)被用于評估光學雙折射

產(chǎn)品型號：OIA
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2022-09-27
訪問量：1441

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

相關(guān)文章

詳細介紹

利用光彈調(diào)制器技術(shù)，Hinds 公司的應力雙折射測量系統(tǒng)(殘余應力測量)可以在深紫外（193nm）波段進行應力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）的技術(shù)解決方案。

應力雙折射測量系統(tǒng)，非球面透鏡應力雙折射測量，應力橢偏儀，應力橢偏測量,殘余應力測量

Hinds 公司的不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)（應力雙折射測量系統(tǒng)）通過對光的調(diào)制解調(diào)可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向，這些數(shù)據(jù)同時也表示了應力的大小和方向。Hinds 公司這套不規(guī)則非球面光學元件應力分布測量系統(tǒng)的傾斜，多角度入射掃描技術(shù)可以保證對非球面不規(guī)則的光學元件（光刻機透鏡等）有著的掃描測量解決方案。

產(chǎn)品咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

上一篇：150AT殘余應力檢測
下一篇：Optlux SD光學表面瑕疵檢測

殘余應力測量

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：